Oct. 2, 2002.
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図1: ダイナミックレンジ全体でのgain分布。
図2: カウントが低い部分でのgain分布。
図3: ダイナミックレンジ全体でのlinearity residuals。
図4: カウントが低い部分でのlinearity residuals。
XY file:
bin_sml.csv
format: binの始めのカウント、終わりのカウント、中間のカウント、binのdata数 n_data、
gain、σgain、σgain/√n_data、LRs、σ_LRs
図5: 9/26の2回のgain分布測定の比較。〜1%のシフトが見られた。
注:以下、全てのADU値をelectron値に換算する場合は2.2を掛けること。 (linearity特性全体) 主に図3,4を参照 カウントS (ADU)によって3つに区分される (1) S < 〜1000 ADU 〜300 ADUまでで +6%まで跳ね上がり、以後なだらかに +2%まで減少 (2) 1000 < S < 30000 ADU ±1%以内 (3) S > 30000 ADU 〜40000 ADUまでは±2%に納まるが、以後急に悪くなり、 〜50000 ADUで約 -6%に達する。 (linearity特性の安定性) 図5より 複数の測定で全体の形状は似ているが、1%程度のシフトが見られた (gainを決めている抵抗の温度変化などが原因と考えられる) (考察) 1000-2000 ADU以下の低いカウントのみで観測する場合、 変な形状のlinearity特性の影響を受ける可能性がある。 (要確認) peakが数千〜30000 ADUでの観測の場合は、±1%のlinearityの範囲で 問題なく使用できる。 (< 1000 ADU以下の変な特性は無視できる程度) 30000 ADUを超えると、徐々にlinearityが悪くなる。天体偏光度との 兼ねあいで、許容peakカウントの評価が必要。 (要確認) システムゲインが時間によって少なくとも1%程度変わり得る 一枚の画像内で変化しない限り、偏光測定には影響ないだろう