*CCDカメラ・制御系 作業日誌

linearity関連

2002年9月

2002年8月 <-> 2002年10月 

三鷹作業(9/22-27)に関するメモ。

 ・良リニアリティの定量評価
   最適な抵抗値の設定
   もう少し小さな抵抗を装着してのリニアリティ特性評価
      (特に低カウントに注意)
   BIAS OFFSETも大きくしてダイナミックレンジを広げることができるか？
    (ノイズへの影響)

 ・悪リニアリティでのリニアリティ特性・ダイナミックレンジ調査
     積分器波形を上がり-下がりにしてみる。
     bias jumpまでの区間を特に密にリニアリティ調査

 ・悪リニアリティが改善されるか？
     CLIPV-の接続を切ってみる
     BIASON / SIGONを入れ替えて見る
       ＝大きなカウントのとき、積分器積分中の電圧下降の傾きが大きく
       なったら、これまでのようにJUMPが生じるか？

 ・ダークの測定
  

正常CCDクロックの記録

データのバックアップ (DAT、sbマシンに)
ソフトのバックアップ
ログのコピー

物品リストチェック
* 2002.9.22 (0h-0)
■ CCDカメラ関連

■ 真空引き・冷却
昼の時点でCCD 144K、CASE 100K、1E-6 Torr。

■ VSIGOFF の違いでノイズが変わるか？
変わる。BIAS電圧出力にある抵抗値というよりは、電圧／抵抗値＝電流値 に依存してノイズが増えるらしい。
ADC IN波形にjumpが見られると、それがノイズとなっている様子。

■ SIGADC D5 (電圧保護回路)を外すとどうなるか？
変わらず。ADC IN波形の、傾き大時のjumpは消えず。

■ リニアリティ悪・ノイズ高 設定の最終決定
gain jumpが起きないように、SIGOFF R36の抵抗値を微調整。
R36=51Kに15kを並列接続。合成抵抗11.6kΩに。
shutterless photon transferによるlinearity測定。
特にカウントが小さい部分に注意。
τINTEG=4000, 2400ns 2種でデータ取得
解析をスタートさせて終了

■ 制御系関連
■ その他
■ 雑感
* 2002.8.xx (0h-0)
■ CCDカメラ関連
■ 制御系関連
■ その他
■ 雑感
post 秋田谷 洋 (akitaya@astr.tohoku.ac.jp)