CCD chip未接続状態でのノイズ対策
August 6, 2001.
実験
CCDチップを接続せず、SIGADCへの信号入力、もしくは、CLKAMPへの
CCD信号入力それぞれに10kΩ抵抗接続(および短絡)した状態での
画像読みだしを行った。
VMEラックの交換、ケーブルのシールドなどノイズ対策に有効と
思われる操作を行いつつ画像を取得し、画像内のカウントの
標準偏差(=ノイズ)を測定した。
VMEラックは、我々のグループで購入して使用している「LIPS用(Schroff)」と
市川氏のグループが所有している「東北大CCD用(中央電子)」の間で比較した。
結果一連のノイズ対策(次節で列挙)の前後でのノイズ値は次表の通り。
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ノイズ (画像内標準偏差[ADU])
SIGADC入力 CLKAMP入力
VID±間 COUT±間
VMEラック ノイズ対策 10kΩ short 10kΩ
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LIPS用 前 9.862 103.1 128.3
(Schroff11009-043) 後 10.63 100.3 112.8
東北大CCD用 前 16.13 65.95 131.9
(中央電子EUPS-30A) 後 6.95 - 67.7
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ノイズ対策の後では、LIPS用VMEラック使用時に対して、東北大CCD用VMEラック使用
時のノイズが約6割と低くなっている。有意にVMEラックもしくはその電源の相違
によるノイズの相違があることが分かった。
LIPS用VMEラック使用時のノイズ。
振幅には異なるlineにわたって、なめらかで連続的な変動が見られる。
程度は2倍以下。
東北大CCD用VMEラック使用時のノイズ。
ノイズ対策
今回、主に以下ようなのノイズ対策を実施した。
ノイズ減への効果の程度ごとに項目を分類した。
VMEラック電源コンセントの変更でノイズに大きな相違がみられたのは、
VMEラックのノイズへの寄与の程度が大きいことを示しているようだ。
ノイズ対策実験1。LIPS用VMEラック(左)と東北大CCD用VMEラック(右)。
ノイズ対策実験2。CLKAMP-BIAS間のケーブルは新たに作り直した。
前回丸一日かかった作業が、今回は半日で済んだ。若干の上達?
まとめと今後の対策
秋田谷 洋
(akitaya@astr.tohoku.ac.jp)